EVENTI
Nell'ambito della serie di seminari e lezioni "Ai confini dell'infinitamente piccolo" organizzati dal CEDAD sugli aspetti fondamentali e le applicazioni della microscopia elettronica a risoluzione atomica, Martedì 27 giugno 2023, in diretta streaming dalla Sala Convegni del CEDAD - CEntro di Fisica applicata, DAtazione e Diagnostica del Dipartimento di Matematica e Fisica "Ennio De Giorgi" dell'Università del Salento, la Dott.ssa Laura Lazzarini dell'Istituto dei Materiali per l'Elettronica e il Magnetismo - IMEM - CNR di Parma, terrà 4 lezioni di microscopia elettronica dal titolo:
- «ANALYTICAL TEM: THE SCANNING -TEM MODE» - ORE 10.30
- «THE Z-CONTRAST IMAGING (STEM-HAADF)» - ORE 11.30
- «SPECTROSCOPY IN THE S-TEM MODE (X RAYS, CATHODOLUMINESCENCE AND ELECTRONS) - ORE 15.00
- « HOW TO ASSESS MATERIALS SCIENCE PROBLEMS WITH ELECTRON MICROSCOPY TECHNIQUES: SOME CASE STUDIES» - ORE 16.00
Si potranno seguire le lezioni in diretta streaming sul canale YOUTUBE del CEDAD (www.cedad.unisalento.it
https://www.youtube.com/
I seminari saranno comunque disponibili successivamente sullo stesso canale YouTube del CEDAD
ABSTRACT
La microscopia elettronica a scansione in trasmissione (STEM), utilizzando il fascio elettronico in modalità convergente, rappresenta una metodologia alternativa al TEM convenzionale per le indagini di carattere morfologico e strutturale per una vasta varietà di materiali, dai cristalli agli amorfi ai campioni biologici.
La microscopia elettronica analitica (AEM) è l’insieme delle tecniche spettroscopiche che, in un microscopio, consentono di acquisire e quantificare informazioni chimiche risolte spazialmente. Se le indagini spettroscopiche vengono effettuate in modalità STEM, si possono raggiungere risoluzioni analitiche senza precedenti, con il riconoscimento della specie chimica del singolo atomo.
Nelle lezioni verrà introdotto il meccanismo di formazione del contrasto di immagine nella modalità STEM anche in risoluzione atomica, mettendo in evidenza le differenze rispetto alla tecnica TEM convenzionale: rilievo sarà riservato al cosiddetto Z contrast e ai rivelatori HAADF per questo genere di segnale.
Verranno spiegati i principi e le potenzialità delle principali tecniche spettroscopiche abbinate allo STEM:
-Microanalisi a dispersione di energia di radiazione X caratteristica (EDX o EDS): serve a identificare gli elementi chimici (EDX qualitativa) e anche la loro abbondanza relativa (EDX quantitativa).
-Spettroscopia di elettroni a perdita di energia (EELS): il segnale è prodotto dall’interazione anelastica del fascio primario con gli elettroni del campione e contiene informazioni quali gli elementi presenti, la stechiometria, la struttura elettronica
Verranno inoltre illustrati casi esemplari in cui la concorrenza delle varie tecniche di microscopia affronta e risolve problemi inediti nella scienza dei materiali.