Avviso di selezione pubblica per affidamento di n. 1 incarico di collaborazione coordinata e continuativa per ”Caratterizzazione morfologica a livello nanometrico mediante microscopia a Forza Atomica di substrati di SiC e GaN e di film depositati sugli stessi”. Progetto “TASMA Tecnologie Abilitanti per Sistemi di Monitoraggio Aeroportuale” – Responsabile Progetto Prof. Lorenzo Vasanelli

Scadenza presentazione domande: ore 13.00 del 18/08/2014

Bando e relativi Modelli di domanda